Microscopía de fuerza atómica
Marca BIOBASE
Origen del producto PORCELANA
El tiempo de entrega En un plazo de 7 días
Capacidad de suministro Suministro directo de fábrica
Modelo BK-AFM1000
Introducción:
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de obtención de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de las superficies a escala nanométrica. La AFM se utiliza ampliamente en la ciencia de los materiales, la biología, la física y la nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.
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Características:
1. La sonda de escaneo integrada y la plataforma de muestra mejoran la capacidad antiinterferencia del sistema de suspensión de resorte.
2. El dispositivo de posicionamiento de sonda y láser de precisión hace que el cambio de sonda y el ajuste del punto sean simples y convenientes.
3. El acercamiento automático de la muestra a la sonda proporciona una forma eficiente de evitar el choque del voladizo.
4. La aproximación vertical de la sonda de muestra permite lograr un posicionamiento preciso del área de interés.
5. El área de escaneo de muestra de interés se puede seleccionar libremente con una mesa XY de amplio rango y alta precisión.
6. El sistema CCD de vista superior garantiza la observación y el posicionamiento en tiempo real de la sonda en la región de muestra seleccionada.
7. El diseño modular del sistema de control electrónico facilita el mantenimiento y las mejoras continuas.
8. El modelo compacto 2000 se puede transportar fácilmente dentro de un equipaje de aluminio.
9. La caja hermética del modelo 1000 proporciona un ambiente controlado.
Parámetros técnicos:
Modelo | BK-AFM1000 |
Modos de trabajo | Modo de contacto y modo de lapeado Modos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM) |
Tamaño de la muestra | Diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm |
Escáneres disponibles | 10*10 μm, 20*20 μm, 50*50 μm, 100*100 μm |
Resolución de escaneo | 0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z |
Rango de movimiento de la muestra | ±6,5 mm |
Ancho de pulso del motor paso a paso | 10 ± 2 ms |
Puntos de muestreo de imágenes | 512*512 |
Aumento óptico 4X | Resolución óptica 2,5 μm |
Frecuencia de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 Hz | Ángulo de escaneo 0°~360° |
Control de escaneo | D/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z |
Muestreo de datos | Muestreo sincrónico multicanal A/D de 14 bits, A/D doble de 16 bits |
Comentario | Retroalimentación digital DSP |
Frecuencia de muestreo de retroalimentación | 64 kHz |
Interfaz de computadora | USB 2.0 |
Sistema operativo | Windows XP/7/8/10 |
Suministro de energía | CA 220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional) |
Tamaño del paquete | 550*550*1150mm |
Peso bruto | 65 kilos |
