afm para nanotecnología
  • Microscopía de fuerza atómica

    Microscopía de fuerza atómica

    Introducción: La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de obtención de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de las superficies a escala nanométrica. La AFM se utiliza ampliamente en la ciencia de los materiales, la biología, la física y la nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.

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